MICROSCOPIO
ELETTRONICO A SCANSIONE
CAMBRIDGE STEREOSCAN 360
MICROANALISI
A DISPERSIONE DI ENERGIA
EXL LINK ANALYTICAL
MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE
La microscopia elettronica a scansione permette l'osservazione, in
modalità tridimensionale, e la caratterizzazione di materiali
eterogenei organici ed inorganici purché solidi.
Il SEM, oltre al consueto detector per gli elettroni secondari che
permette l'analisi morfologica dei campioni, è equipaggiato con
un detector per gli elettroni retrodiffusi (4QBSD) che consente di
analizzare la composizione chimica del campione.
Inoltre sfruttando le radiazioni X è possibile individuare su
monitor , mediante mappature, la distribuzione degli elementi su tutto
il campione o su parte di esso (EDXM e EDXL).
DATI
TECNICI:
Filamento di tungsteno quale sorgente di elettroni.
Range di tensioni d'accelerazione del fascio elettronico variabile da
200 V a 40 KV. In steps da 10V al di sopra dei 3 kV e in steps da 100V
tra 3kV e 40kV.
Sono ottenibili ingrandimenti che vanno da 10x a 300.000x con una risoluzione di 4 nm a
40kV.
I campioni possono avere un diametro massimo di 15-20 cm e un
peso massimo di 2Kg. Più campioni di piccole dimensioni possono
essere inseriti contemporaneamente
nello speciale tavolo portacampioni.
Il tavolo portacampioni può essere mosso secondo gli
assi X ed Y di 100 mm; secondo l'asse Z di 70 mm; inclinato da 0° a
90° e ruotato da 0° a 360° ad una distanza di lavoro di 25
mm.
Le immagini sono riproducibili su pellicole piani Polaroid
(9x12 cm), su pellicola fotografica da 35 mm e su supporto magnetico in
forma digitale.
Le pompe rotativa e turbomolecolare determinano un vuoto, all'interno della camera portacampioni di circa 2 x 10 -6 Torr.
I campioni non devono essere polverulenti e rilasciare acqua e sostanze gassose.
Sui campioni non-conduttori deve essere depositato un sottile film d'oro o carbone.
MICROANALISI
La microanalisi a raggi X, interfacciata al microscopio elettronico a scansione,
permette di effettuare analisi elementari qualitative e quantitative estremamente
precise su porzioni di campione, pochi um in diametro.
DATI TECNICI:
Detector Si/Li con 133eV di risoluzione.
Il software di cui è dotato il sistema permette
analisi qualitative, semi-quantitative e quantitative con totale
deconvoluzione dello spettro e correzione ZAF. E' presente inoltre il
software per l'analisi d'immagine.
Si effettuano analisi quantitative su campioni voluminosi, particelle, campioni rugosi
e materiale biologico.
Sono inoltre possibili mappature in tempo reale.
I campioni non devono essere polverulenti e rilasciare acqua e sostanze gassose.
Sui campioni non-conduttori deve essere evaporato un sottile film di carbone.
RESPONSABILI STRUMENTAZIONE:
Dr.ssa Laura Petetta
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Centro Grandi Apparecchiature - Scuola di Scienze e Tecnologie
